读音信息
- 拼音字母
- ke ce shi xing she ji
- 拼音首字母
- kcsxsj
- 注音符号
- ㄎㄜ ㄘㄜ ㄕ ㄒㄧㄥ ㄕㄜ ㄐㄧ
- 注音首字母
- ㄎㄘㄕㄒㄕㄐ
百科释义
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。
拆字组词
可测试性设计（英语：Design for Testability, DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。